平面無影光源RLE
平面無影光采用獨特的照射結構,從LED發出的光均勻地擴散照射,同時採用柔性線路板以度照射角度固定,經折射後低角度照射在被測物體上,以強化表面特徵(如激光浮印或蝕刻標識或提高表面缺陷的對比度。
產品規格及應用
| 波長及色溫 |
紅色R |
620nm--630nm |
工作環境 |
溫度
濕度 |
-10度--60度 |
| 白色W |
6500K |
20--85%(無霧化) |
| 藍色B |
465--470nm |
工作環境 |
控制器 |
模擬控制器, 頻閃控制器 |
| 綠色G |
525nm--530nm |
數字控制器 |
| 紅外IR |
850nm/940nm |
應用範圍 |
檢測食品袋上日期
金屬器件邊緣檢定位,尺寸檢測。
檢測IPA精密部件外形尺寸。 |
| 紫外UV |
365nm/395nm |
| 品質保證 |
一年亮度等級保證,兩年產品質量保證; |
案例 CASE Application
異形產品定位檢測
使用光源:DHK-RLE100-R
採用平面無影光光線均勻照射突出產品外形輪廓,清晰可見。
手機殼白邊檢測
使用光源:DHK-RLE100-R
採用平面無影光在低距離下照射使手機殼白邊清晰,提高對比度
啤酒瓶身二維碼檢測
使用光源:DHK-RLE100-B
在無影光照射下
使啤酒瓶身二維碼清晰可見。